オージェ電子分光装置の故障について

いつもご利用ありがとうございます。

オージェ電子分光装置(AES)が現在イオンポンプの不具合で分析室の真空が度々落ちるという現象が続いています。原因は不明です。

AESの利用について、修理完了まで停止させて頂きます。

早ければ来週中に復旧する見込みです。

お手数お掛け致しますが利用者の方はご確認のほどよろしくお願い致します。

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施設ウェブサイトアドレスの変更について

いつもご利用頂きありがとうございます。

当施設のウェブサイトが SSL/TLS対応のサイト に変わりました。

新しいアドレスは https://labs.eng.hokudai.ac.jp/labo/HUXPSLab/ です。

ご確認のほどよろしくお願い致します。

なお、旧来の http://labs.eng.hokudai.ac.jp/labo/HUXPSLab/ でも新アドレスの方に転送されます。

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施設説明会資料について

本日材料化学棟2階で行いました施設説明会のスライド資料をご用意いたしました。

必要な方はこちらからダウンロードください。

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微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング開催のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

10月23日(水)に第7回北海道大学 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティングを開催することをお知らせいたします。

SEM、EPMA、XPS等の表面・微小部分析を必要とするユーザーの皆様と各装置を担当する技術職員とが材料分析に関するテクニカルな情報の共有を目的として開催される装置セミナーです。

今回はXPSについては「ポリマーへの波形分離計算を中心としたXPS分析の基礎と応用」と題して、日ごろの分析で頭を悩ませやすい波形分離計算について紹介がございます。またストルアスからは「金属組織観察や不具合解析のための適正な試料断面作製方法」と題して金属組織についての断面作製をご紹介頂きます。他、「鋭敏化されたステンレス鋼のEPMA分析とCP前処理」ではCPの前処理についての実用的なレクチャーもありそうです。

既に表面分析の装置を利用されている方もこれから装置を活用する予定の方も、改めて装置や分析法を知る良い機会ですので是非ご参加ください。

ユーザーズミーティング詳細はこちらをご参考ください。

日時:2019年10月23日(水) 13:00~17:30

場所:工学研究院 フロンティア応用科学研究棟1階 セミナー室

事前申し込み参加費不要。どなたでもご参加頂けます。

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装置使用料の改定について

いつもご利用頂きありがとうございます。

全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は 2019年 4月1日から装置使用料の料金改定を行っておりましたが、 2019年 10月1日からの消費税増税及び 本学ナノテクノロジープラットフォーム事業の料金規程の変更に伴いまして、再度料金規程が10月1日付けで変更となります。

再々の料金改定で利用者の皆様には大変ご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。

この度の主な変更点と致しまして、

・学内ナノテクプラットフォーム利用者のXPS、AESの利用料及び代行料単価の100円増

・学外利用者の初回講習料、利用料、代行料の一割増

・学外利用者の技術支援料、消耗品料金の一割増

となっております。

装置利用料の変更に伴い、利用者の皆様にご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。

利用料についてご不明な点がございましたら、施設職員までご連絡下さいますようよろしくお願い致します。

2019年10月1日からの装置使用料は以下の通りです。

  • 一般利用(学内)
装   置 利用料
X線光電子分光装置 (JPS-9200)XPS 1,500円/1時間
オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES 1,800円/1時間
試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM 700円/1時間
断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP 500円/1時間
原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM 300円/1時間
共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM 200円/1時間
  • ナノテクノロジープラットフォーム事業支援申請有(学内)※1,2
装   置 利用料 技術代行料A
※3
技術代行料B
※4
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS
1,200円/1時間 5,200円/1時間 9,200円/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES
1,500円/1時間 5,500円/1時間 9,500円/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
500円/1時間
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
300円/1時間
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
300円/1時間
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
200円/1時間

※1ナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請書を提出された装置利用者またはその申請の関連研究者等に記載がある装置利用者で装置利用がその申請課題に基づく利用である。且つ、その申請課題で年度中に本施設の光電子分光装置(XPS)またはオージェ電子分光装置(AES)の利用がある場合に本区分の料金が適用される。

※2装置予約時に課題番号の入力が必要。

※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。

※4利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。

  • 学外(大学・公的機関)
装   置 初回講習料  利用料    技術代行料A※2 技術代行料B※3
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS ※1
35,200円
/1回
2,000円
/1時間
6,400円
/1時間
10,800円
/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES ※1
35,200円
/1回
2,600円
/1時間
7,000円
/1時間
11,400円
/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
17,600円
/1回
880円
/1時間
-   -  
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
17,600円
/1回
660円
/1時間
-   -  
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
8,800円
/1回
440円
/1時間
-   -  
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
8,800円
/1回
330円
/1時間
-   -  

※1ナノテクノロジープラットフォーム事業登録装置のため、ナノテクノロジープラットフォーム事業への支援申請が必要。

※2利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。

※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。

  • 学外(一般)
装   置  初回講習料  利用料   技術代行料A※2 技術代行料B※3
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS ※1
35,200円
/1回
6,200円
/1時間
10,600円
/1時間
15,000円/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES ※1
35,200円
/1回
9,000円
/1時間
13,400円
/1時間
17,800円
/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
17,600円
/1回
2,200円
/1時間
-   -  
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
17,600円
/1回
1,210円
/1時間
-   -  
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
8,800円
/1回
1,760円
/1時間
-   -  
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
8,800円
/1回
1,650円
/1時間
-   -  

※1ナノテクノロジープラットフォーム事業登録装置のため、ナノテクノロジープラットフォーム事業への支援申請が必要。

※2利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。

※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。

  • 技術支援料
技術支援内容単価(学内)単価(学外)
技術支援料(通常)※54,000円/1時間4,400円/1時間
技術支援料(高度)※68,000円/1時間8,800円/1時間
技術相談料※710,000円/1時間11,000円/1時間

※5各種分析装置に関する通常の手法で可能な試料前処理(表面研磨、加工)などの作業

※6各種分析装置に関するより精緻な試料前処理(表面研磨、加工、予備観察)が必要になる作業

※7各種分析装置に関する分析結果に関して行う高度な解析作業。通常の技術相談については施設としてご請求する事はありません。

  • 消耗品
消耗品単価(学内利用者)単価(学外利用者)
マイクロカンチレバー(SI-DF40)3,800円/本4,180円/本
マイクロカンチレバー(SN-AF01)3,300円/本3,630円/本
カンチレバー用ゲルパック
静電気対策品
4,600円/個5,060円/個
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AES&XPS定期メンテナンス日程及び全学停電のお知らせ

いつもご利用頂きありがとうございます。

XPSは8月26日~9月3日までの間、AESは8月23日~8月31日までの間、定期メンテナンスの為ご利用出来ません。

XPSはこの定期メンテナンス作業に伴い、PC&ソフトウェアのバージョンアップを予定しています。

大幅にマニュアルの内容が変更になる予定です。マニュアル更新の際には内容のご確認をお願い致します。

また併せて9月1日の全学停電に伴い、8月30日14:00~9月2日12:00までの間は装置の停止・復旧作業の為、全装置がご利用出来ません。装置予約サイトも同期間中、停止致します。

ご不便お掛け致しますがご確認のほどよろしくお願い致します。

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SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理について

いつもご利用ありがとうございます。

6月初旬から故障していたSEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器について、6/21(金)に修理を行います。

6/21(金)午後より、反射電子像観察(COMPO像、TOPO像)が行えるようになる見込みです。

ユーザーの皆様にはご不便をお掛け致しました。

また、このような故障が起きないようユーザーの皆様にも、装置の使用方法について十分ご注意頂きますようよろしくお願い致します。

使用方法についてご不明な点、不安な事などありましたら職員までご相談下さい。

よろしくお願い致します。

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SEMの反射電子検出器の故障について

いつもご利用ありがとうございます。

SEM(JSM-6510LA)は現在、 試料との接触により検出器が壊れた為、反射電子像(COMPO像、TOPO像、立体像)の観察が行えません。

また、反射電子像を観察する低真空モードについても使用出来ません。

通常の2次電子像観察、及びEDS分析については問題なく使用出来ます。

反射電子検出器の修理の予定は現在未定です。

反射電子像観察をご要望の方は施設職員までご相談下さい。

反射電子検出器の故障はユーザーの操作ミスに因るものでした。故障内容によっては修理に大変高額な費用が発生する場合があります。装置利用者の方はくれぐれもマニュアルの記載内容、装置講習時の注意点を守って操作するように徹底してください。また操作や導入する試料に不安な点などがあれば、どうぞ気兼ねなく施設職員までご相談ください。

よろしくお願いいたします。



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XPSでの粉末試料の取り扱いについて

いつもご利用ありがとうございます。

光電子分光装置(JPS-9200)において、粉末試料を扱われるユーザーの方にお願いがございます。

ここ最近粉末試料の固定が甘い為に粉末が装置内に飛び散り、V1バルブの隙間に試料が入り込んでバルブ開閉に不具合が生じています。

粉末試料を使用する場合、接着剤等を使用して固定し、十分にブロワーをかけて(30回以上を目安に)吹き飛ぶものは事前に吹き飛ばし、また固定したホルダーに振動を与えて(指で弾いたり実験台に当てるなど)ふるい落とせるものは落としてください。

少しでも粉末が固定基板から飛び散っていたり、ペレット状に固めた粉末が割れていたり、In箔に埋め込んだ粉末が埋め込みが上手くいかず浮いている、というような状況の場合、試料の導入は行わないでください。

これらの事が守られずに粉末試料を導入し、粉末試料の装置内での飛散が確認された場合には装置の使用をお断りさせて頂きます。また、この事により装置の故障が起きた場合には修理代等を請求させて頂きます。

粉末試料を扱われる場合には十分に注意して使用してください。試料の扱いについて不安がある場合には担当職員までどうぞご相談下さい。

ご協力のほどよろしくお願い致します。

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2019年度全学共同利用施設説明会資料について

いつもご利用ありがとうございます。

先月行われた2019年度全学共同利用施設説明会について、当日のスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧ください。

分析相談はいつでも受け付けております。

施設スタッフまでご連絡お待ちしております。

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