第35回分析電子顕微鏡討論会のお知らせ

本年度の分析電子顕微鏡討論会は終了いたしました。多数のご参加をいただきここに感謝申し上げます。

令和元年9月5日更新


主催

公益社団法人 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会

協賛

軽金属学会、日本金属学会、日本材料学会、触媒学会、日本熱処理技術協会、日本表面真空学会、日本鉄鋼協会、日本分析化学会、応用物理学会、日本セラミックス協会、日本物理学会

日時

201993() 10:00-16:30 (受付 9:20)
2019
94() 10:00-16:40 (受付 9:30)
(
分析展 JASIS2019 (主催:日本分析機器工業会)と共催)

会場

幕張メッセ 国際会議場2階 国際会議室 (261-0023 千葉市美浜区中瀬 2-1)
最寄駅 JR海浜幕張駅 徒歩10 / JR,京成 幕張本郷駅よりバス15 / 羽田、成田空港よりバス 40
9
4日は幕張本郷駅ほかよりJASIS シャトルバスも利用いただける見込みです。
海浜幕張駅から徒歩が便利です。
⇒JASIS2019 アクセスガイド

参加費

日本顕微鏡学会会員(個人会員)及び協賛学会員(個人会員) 6,000(予稿集含む)
非会員 7,000(予稿集含む)
学生 無料(予稿集が必要な方は 1,500)
※ 法人会員は非会員扱いとなります
※ 参加費に飲食費は含みません
※ 日本顕微鏡学会会員は消費税 不課税、それ以外は内税となります。

内容

分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックス(一般講演含む)について講演が行われます。チュートリアルでは、分析電顕の基軸となるEDSEELSの基礎について詳しい講演がなされます。初日のトピックスセッションでは、「新しい検出器と検出法による解析」に焦点をあてて最新の研究事例を紹介します。二日目は「特殊分光法の基礎と応用」というトピックスセッションで角度分解EELSCL、ビームロッキングを利用したEDS/EELS分析に関する講演がなされます。また。さらに「ダメージを受けない試料作製法」では無機材料から生物試料まで試料作製に関する詳しい講演がなされます。さらに、二日目の午後には一般講演セッションに設定し、分析電顕に関わる活発な討論の機会を設けます。一般講演に奮ってご参加ください。


参加申込


参加申し込みは氏名、勤務先、所属、住所、電話番号、Fax番号、e-mailアドレス、申込資格(会員・協賛学会員・学生・非会員)をご記入の上、e-mailにて下記へお申し込み下さい。

参加費は当日会場受付でお支払いください。受付をスムーズに行うため、当日は釣り銭のないよう参加費をご準備いただくようご協力お願い申し上げます。

申込メールアドレス: bunseki@eng.hokudai.ac.jp

事前参加登録締切 830日(金)

*事前登録は締め切りました。当日参加も受け付けておりますので討論会会場受付にある当日参加登録票にご記入の上、受付にご提出ください。


その他


本討論会は JASIS コンファレンス として実施されます。本討論会参加登録のほか JASIS2019 入場登録が必要です。当日朝はJASIS受付の混雑が予想されますので、JASIS 事前入場登録をお願いいたします。⇒ JASIS 2019


連絡先


060-8628 札幌市北区北13条西8丁目
  北海道大学大学院工学研究院附属エネルギー・マテリアル融合領域研究センター
  マルチスケール機能集積研究室 内
  分析電子顕微鏡討論会事務局
  坂口 紀史
  Tel&Fax: 011-706-6768
  E-mail: bunseki@eng.hokudai.ac.jp


プログラム (201907月29日版)
* プログラムの内容(発表順等)は掲載時点の予定であり、今後調整させて頂く可能性もございます。
*
プログラム変更の際にはこのページにて告知いたします


93() 10:00-16:30

チュートリアル (30) 座長: 谷口 佳史 (日立ハイテクノロジーズ)

10:00-

EDSの基礎

金子賢治(九州大学)

10:30-

TEM-EDSにおける定量分析の原理とその実際

森田正樹(日本電子)

11:00-

EELSを用いた誘電特性解析の基礎

佐藤庸平(東北大学)

11:30-

内殻励起スペクトルの基礎と応用

治田充貴(京都大学)

12:00-

昼食

トピックス1 「新しい検出器と検出法による解析」 (30) 座長: 伊野家 浩司 (日本ローパー) 溝口 照康 (東京大学)

13:30-

DPCによる電磁場定量法の基礎

関岳人1, Sánchez-Santolino Gabriel1, 石川亮1, Findlay Scott2, 幾原雄一1,3, 柴田直哉1,3(1 東京大学, 2 Monash University, 3 ファインセラミックセンター

14:00-

タイコグラフィーによる電子線の位相回復の初歩

三石和貴(物質・材料研究機構)

14:30-

微分位相コントラストSTEMのソフトマテリアルへの適用

稲元伸, 吉田晃世, 大塚祐二(東レリサーチセンター)

15:00-

休憩

15:10-

ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による局所構造解析

津田健治, 佐川隆亮, 橋口裕樹, 近藤行人(1 東北大学, 2 日本電子)

15:40-

TEMによる結晶方位マップおよび相マップの作製

鈴木清一(TSLソリューションズ)

16:10-

総合討論

94() 10:00-16:40

トピックス2 「特殊分光法の基礎と応用」(30)座長: 木本 浩司 (物質・材料研究機構)

10:00-

角度分解EELSによる表面プラズモンの分散測定

齋藤光(九州大学)

10:30-

ビームロッキングEDS/EELS分析:電子チャネリング効果を活用したサイト選択的定量組成・電子状態評価

大塚真弘(名古屋大学)

11:00-

角度分解カソードルミネセンスSTEMによる表面プラズモンモードの抽出と干渉

三宮工(東京工業大学)

11:30-

昼食 / JASIS 展示見学時間

トピックス3 「ダメージを受けない試料作製法」(30)座長: 矢口 紀恵 (日立ハイテクノロジーズ)

14:00-

取り扱い時にダメージを受けやすいソフトマテリアルの電顕試料作製方法と観察方法

広瀬治子(帝人)

14:30-

機能性デバイスのオペランド観察に必要となる電圧印加用TEM試料作製技術

山本和生1, 穴田智史1, 野村優貴21 ファインセラミックスセンター, 2 パナソニック

15:00-

金属および酸化物のSEM観察試料作製 〜実例をもとに〜

赤嶺大志, 板倉賢, 西田稔(九州大学)

15:30-

休憩

一般講演 (15) 座長: 定山 正林 (サーモフィッシャーサイエンティフィック)

15:40-

Xeイオンミリングを用いた高スループット薄膜試料作製

佐藤高広1, 渡邉慶太郎1, 相澤由花1, 清原正寛2, 神谷知里1(1日立ハイテクノロジーズ, 2 日立ハイテクサイエンス

15:55-

電子線によるSi結晶のドリリング(削孔)のプローブ電流及び加速電圧の依存性

遠藤徳明, 近藤行人, 福永啓一, 奥西栄治(日本電子)

16:10-

Precession NBDによる半導体デバイスの歪み解析

中西伸登, 関口浩美, 宗兼正直(サーモフィッシャーサイエンティフィック)

16:25-

電子線ホログラフィーを用いたPt/TiO2界面における電荷空乏層の測定

中島宏1, 山本真人2, 田中秀和2, 村上恭和11 九州大学, 2 大阪大学)


Links


日本顕微鏡学会
jsm

JASIS 2019
https://www.jasis.jp/exhibit/img/dl_img/jasis_logo1.jpg

幕張メッセ
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