AES&XPS定期メンテナンス日程及び全学停電のお知らせ

いつもご利用頂きありがとうございます。

XPSは8月26日~9月3日までの間、AESは8月23日~8月31日までの間、定期メンテナンスの為ご利用出来ません。

XPSはこの定期メンテナンス作業に伴い、PC&ソフトウェアのバージョンアップを予定しています。

大幅にマニュアルの内容が変更になる予定です。マニュアル更新の際には内容のご確認をお願い致します。

また併せて9月1日の全学停電に伴い、8月30日14:00~9月2日12:00までの間は装置の停止・復旧作業の為、全装置がご利用出来ません。装置予約サイトも同期間中、停止致します。

ご不便お掛け致しますがご確認のほどよろしくお願い致します。

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SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理について

いつもご利用ありがとうございます。

6月初旬から故障していたSEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器について、6/21(金)に修理を行います。

6/21(金)午後より、反射電子像観察(COMPO像、TOPO像)が行えるようになる見込みです。

ユーザーの皆様にはご不便をお掛け致しました。

また、このような故障が起きないようユーザーの皆様にも、装置の使用方法について十分ご注意頂きますようよろしくお願い致します。

使用方法についてご不明な点、不安な事などありましたら職員までご相談下さい。

よろしくお願い致します。

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SEMの反射電子検出器の故障について

いつもご利用ありがとうございます。

SEM(JSM-6510LA)は現在、 試料との接触により検出器が壊れた為、反射電子像(COMPO像、TOPO像、立体像)の観察が行えません。

また、反射電子像を観察する低真空モードについても使用出来ません。

通常の2次電子像観察、及びEDS分析については問題なく使用出来ます。

反射電子検出器の修理の予定は現在未定です。

反射電子像観察をご要望の方は施設職員までご相談下さい。

反射電子検出器の故障はユーザーの操作ミスに因るものでした。故障内容によっては修理に大変高額な費用が発生する場合があります。装置利用者の方はくれぐれもマニュアルの記載内容、装置講習時の注意点を守って操作するように徹底してください。また操作や導入する試料に不安な点などがあれば、どうぞ気兼ねなく施設職員までご相談ください。

よろしくお願いいたします。



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XPSでの粉末試料の取り扱いについて

いつもご利用ありがとうございます。

光電子分光装置(JPS-9200)において、粉末試料を扱われるユーザーの方にお願いがございます。

ここ最近粉末試料の固定が甘い為に粉末が装置内に飛び散り、V1バルブの隙間に試料が入り込んでバルブ開閉に不具合が生じています。

粉末試料を使用する場合、接着剤等を使用して固定し、十分にブロワーをかけて(30回以上を目安に)吹き飛ぶものは事前に吹き飛ばし、また固定したホルダーに振動を与えて(指で弾いたり実験台に当てるなど)ふるい落とせるものは落としてください。

少しでも粉末が固定基板から飛び散っていたり、ペレット状に固めた粉末が割れていたり、In箔に埋め込んだ粉末が埋め込みが上手くいかず浮いている、というような状況の場合、試料の導入は行わないでください。

これらの事が守られずに粉末試料を導入し、粉末試料の装置内での飛散が確認された場合には装置の使用をお断りさせて頂きます。また、この事により装置の故障が起きた場合には修理代等を請求させて頂きます。

粉末試料を扱われる場合には十分に注意して使用してください。試料の扱いについて不安がある場合には担当職員までどうぞご相談下さい。

ご協力のほどよろしくお願い致します。

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2019年度全学共同利用施設説明会資料について

いつもご利用ありがとうございます。

先月行われた2019年度全学共同利用施設説明会について、当日のスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧ください。

分析相談はいつでも受け付けております。

施設スタッフまでご連絡お待ちしております。

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全学共同利用施設説明会の開催について

いつもご利用ありがとうございます。

工学研究院の全学共同利用施設を中心とした合同施設説明会が4月24日に行われます。

各種の共用装置を運用する共同利用施設担当の技術職員が各施設装置・利用手続き等についてご紹介致します。当施設も参加致します。

共用装置のご利用を計画されている方はどうぞご参加下さい。事前申し込みは不要です。当日会場までお越しください。

2019年度 全学共同利用施設説明会

日時: 4月24日(水) 10:30~12:15

場所: フロンティア応用科学研究棟2階鈴木章ホール

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装置使用料の改定について

いつもご利用頂きありがとうございます。

全学共同利用施設 光電子分光分析研究室は2019年4月1日より装置利用料について一部改定致します。

来年度からの装置利用料は以下の通りです。

  • 一般利用(学内)
装   置 利用料
X線光電子分光装置 (JPS-9200)XPS 1,500円/1時間
オージェ電子分光装置 (JAMP-9500F) AES 1,800円/1時間
試料予備観察・元素分析装置 (JSM-6510LA) SEM 700円/1時間
断面分析用試料作製装置 (SM-09010) CP 500円/1時間
原子間力顕微鏡 (SPA-400) AFM 300円/1時間
共焦点レーザー走査型顕微鏡 (1LM21D) LSCM 200円/1時間
  • ナノテクノロジープラットフォーム事業支援申請有(学内)※1,2
装   置 利用料 技術代行料A
※3
技術代行料B
※4
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS
1,100円/1時間 5,100円/1時間 9,100円/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES
1,400円/1時間 5,400円/1時間 9,400円/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
500円/1時間 -  
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
300円/1時間 -  
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
300円/1時間 -  
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
200円/1時間 -  

※1ナノテクノロジープラットフォーム事業の支援課題申請書を提出された装置利用者またはその申請の関連研究者等に記載がある装置利用者で装置利用がその申請課題に基づく利用である。且つ、その申請課題で年度中に本施設の光電子分光装置(XPS)またはオージェ電子分光装置(AES)の利用がある場合に本区分の料金を適用される。

※2装置予約時に課題番号の入力が必要。

※3利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で測定を行う場合。

※4利用者が装置講習を受けず、装置オペレーションを技術職員に一任して利用者の指示の下で高度な測定やデータ解析を行う場合。

  • 学外(大学・公的機関)
 装   置 初回講習料利用料  技術代行料A※3 技術代行料B※4
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS
32,000円
/1回
1,700円
/1時間
5,700円
/1時間
9,700円
/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES
32,000円
/1回
2,300円
/1時間
6,300円
/1時間
10,300円
/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
16,000円
/1回
800円
/1時間
-   -  
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
16,000円
/1回
600円
/1時間
-   -  
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
8,000円
/1回
400円
/1時間
-   -  
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
8,000円
/1回
300円
/1時間
-   -  
  • 学外(一般)
装   置 初回講習料 利用料 技術代行料A
※3
技術代行料B
※4
X線光電子分光装置
(JPS-9200) XPS
32,000円
/1回
5,500円
/1時間
9,500円
/1時間
13,500円
/1時間
オージェ電子分光装置
(JAMP-9500F) AES
32,000円
/1回
8,100円
/1時間
12,100円
/1時間
16,100円
/1時間
試料予備観察・元素分析装置
(JSM-6510LA) SEM
16,000円
/1回
2,000円
/1時間
-   -  
断面分析用試料作製装置
(SM-09010) CP
16,000円
/1回
1,100円
/1時間
-   -  
原子間力顕微鏡
(SPA-400) AFM
8,000円
/1回
1,600円
/1時間
-   -  
共焦点レーザー走査型顕微鏡
(1LM21D) LSCM
8,000円
/1回
1,500円
/1時間
-   -  
  • 技術支援料
技術支援内容 単価
技術支援A※5 4,000円/1時間
技術支援B※6 8,000円/1時間
技術相談 4,000円/1時間

※5各種分析装置に関する通常の手法で可能な試料前処理(表面研磨、加工)などの作業

※6各種分析装置に関するより精緻な試料前処理(表面研磨、加工、予備観察)が必要になる作業

学内利用者についてはAFMとLSCMの装置利用料が変更となりました。

学外利用者については初回講習料及び技術代行料について、料金が変更となった他、今まで学外開放していなかった本施設保有のSEM、CP、AFM、LSCMの4機種について、学外利用及び各装置に関する技術支援の料金規程を設定しました。

本改定は主に本学ナノテクノロジープラットフォーム事業の料金規程の変更に伴う改定となります。

装置利用料の変更に伴い、利用者の皆様にご負担をお掛けしてしまう事になりますが、ご理解のほど何卒宜しくお願い致します。

利用料についてご不明な点がございましたら、施設職員までご連絡下さいますようよろしくお願い致します。

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XPSの故障・復旧時期について

いつもご利用ありがとうございます。

現在、XPS(JPS-9200)について全てのX線源が使用出来ないトラブルが発生しております。

この為、年内中の予約について全てキャンセルとさせて頂きました。

ご利用予定の皆様については大変ご不便をおかけしてしまい申し訳ございません。

装置復旧については現在のところ年明け1月4日を予定しています。

ご確認のほどよろしくお願い致します。

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XPSモノクロX線の修理完了しました

いつもご利用ありがとうございます。 故障していたXPS(JPS-9200)のモノクロX線についてですが、先日復旧致しました。 通常通りご利用頂けます。 モノクロX線修理の都合で「Angle Resolved」測定時の磁場レンズステージの引き下げ位置がZ=7.25から8.5に変更となりました。 また磁場レンズステージのロックネジを緩める作業も追加になります。 詳しくは装置マニュアルをご確認下さい。 よろしくお願いいたします。

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(日本語) XPSでのモノクロX線の使用停止について。

Sorry, this entry is only available in Japanese.

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