作成者別アーカイブ: keita

SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました

いつもご利用ありがとうございます。 5月9、10、17日にマテリアル分析・構造解析共用ユニット(MASAOU)主催によるSEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました。 当施設の各種装置について、MASA … 続きを読む

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平成30年度 全学共同利用施設 説明会資料について

いつもご利用ありがとうございます。 本日、平成30年度全学共同利用施設 合同施設説明会を鈴木章ホールにて行いました。 当日説明会に使用した当施設についてのスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧くださ … 続きを読む

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施設説明会&表面分析ユーザーズミーティング開催のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。 4月23日(月)に2018年度工学研究院共同利用施設説明会を開催致します。 共同利用の施設の装置をご紹介致します。 光電子分光分析研究室の施設説明も行われます。 新規に施設のご利用され … 続きを読む

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予約時のナノテク課題番号入力について

いつもご利用ありがとうございます。 平成30年度のナノテクノロジープラットフォーム支援申請の手続きがまもなく始まります。 支援を受けられる予定の方は課題番号が確定しない期間、装置予約サイトの課題番号欄は未入力で結構です。 … 続きを読む

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AES&XPSメンテナンス日程のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。 下記日程について、各装置のメンテナンスの為、装置が使用出来ません。 AES:2/20(火) 9:00 ~ 2/23(金) 17:00 ステージ交換作業、対物レンズ修理 XPS:2/26 … 続きを読む

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年末年始の研究室の予定について

年末年始の各装置のメンテナンス期間をお知らせします。 XPS・CP・AFM・LSCM : 12/28 17:00~1/4 11:00 SEM : 12/28 21:00~ 1/4 11:00 AES : 12/28 15 … 続きを読む

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SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理完了のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。 SEM(JSM-6510LA)で先月辺りから発生していた反射電子像(COMPO像)の不具合について、本日修理が完了致しました。 原因については不明ですが、検出器に粉体が付着している事が … 続きを読む

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反射電子像(組成像)の不具合について

いつもご利用ありがとうございます。 現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。 これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。 年内中に反 … 続きを読む

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オージェ電子分光装置(AES)修理のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。 11月6日10:00~11月8日12:00までの間、AESのステージ修理の為、装置は使用出来ません。 これは主にステージローテーションについて、視野中心が回転中心にならない不具合につい … 続きを読む

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原子間力顕微鏡(AFM)に関わる消耗品について

いつもご利用ありがとうございます。 原子間力顕微鏡(AFM SPA-400)の装置使用に必要となるカンチレバー及びカンチレバーを保管するゲルパックについて、施設利用細則にこれら消耗品費の項目を11月より追加しました。 ・ … 続きを読む

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