年末年始の研究室の予定について

年末年始の各装置のメンテナンス期間をお知らせします。

XPS・CP・AFM・LSCM : 12/28 17:00~1/4 11:00

SEM : 12/28 21:00~ 1/4 11:00

AES : 12/28 15:00~ 1/4 11:00

また、研究室自体も12/28 17:00~1/4 9:00 まで閉鎖致します。

ご不便お掛けいたしますがご理解下さい。

本年も多くのユーザーにご利用頂きました。ありがとうございました。良いお年を。

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SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理完了のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

SEM(JSM-6510LA)で先月辺りから発生していた反射電子像(COMPO像)の不具合について、本日修理が完了致しました。

原因については不明ですが、検出器に粉体が付着している事が確認されています。

粉体サンプルを扱っているユーザーの皆様におかれましては、サンプル固定時にじっかり接着剤に固定し、ブロワーを十分にかけて粉体が飛ぶことのない事を確認した上で装置に導入するよう気を付けてください。

ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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反射電子像(組成像)の不具合について

いつもご利用ありがとうございます。

現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。

これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。

年内中に反射電子検出器を交換する予定です。

組成像を観察したいユーザーの方は交換するまでの間の応急対策として、電子線の加速電圧、スポットサイズを大きく設定して観察を行って下さい(加速電圧20kV以上、SS65以上)。

また、スキャンスピードを遅くすることでも画像のノイズが低減します。

ご不便をおかけいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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オージェ電子分光装置(AES)修理のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

11月6日10:00~11月8日12:00までの間、AESのステージ修理の為、装置は使用出来ません。

これは主にステージローテーションについて、視野中心が回転中心にならない不具合についての修理作業です。

修理当日までAESの利用は可能です。

ご不便お掛け致しますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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原子間力顕微鏡(AFM)に関わる消耗品について

いつもご利用ありがとうございます。

原子間力顕微鏡(AFM SPA-400)の装置使用に必要となるカンチレバー及びカンチレバーを保管するゲルパックについて、施設利用細則にこれら消耗品費の項目を11月より追加しました。

・消耗品

消耗品 単価
マイクロカンチレバー(SI-DF40) 3,800円/本
マイクロカンチレバー(SN-AF01) 3,300円/本
カンチレバー用ゲルパック 静電気対策品 4,600円/個

これまでAFM装置使用にあたり、ユーザーの方には自前でカンチレバーをご用意して頂く必要がございました。

今後は施設のカンチレバーをご利用いただく事が可能です。

その際には上記消耗品を各単価にてご提供させて頂き、装置使用料と共にご請求させて頂きます。

AFM消耗品についてご利用されたい方は、施設職員までお尋ねください。

宜しくお願い致します。

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第5回微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング及び共同利用施設合同説明会のお知らせ

いつもご利用頂きありがとうございます。

第5回微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング 及び 秋期の共同利用施設合同説明会の実施を下記の通り、お知らせします。

新しく各共同利用施設を利用されたいという方は合同説明会へぜひご参加ください。

またユーザーの方々、特にXPSで分析をされる方や、CP&SEMを用いて断面観察を行われる方は、今期の日本電子のテクニカル講演が大変参考になると思われます。

ご興味のある方は奮ってご参加下さい。

【第5回 北海道大学 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング 及び 2017年度 秋期 工学研究院・電子科学研究所 共同利用施設 合同説明会】

日 時:9月19日(火)

10:00~11:45(共同利用施設 合同説明会)

13:00~16:20(微小部・表面分析研究ユーザーズミーティング)

会 場:工学研究院 フロンティア応用科学研究棟 2F セミナー室

内 容:共同利用プログラムの概要について

(ナノテクノロジープラットフォーム、MASAOU)

施設利用ルールの説明

各施設の概要、装置の紹介

ユーザーズ依頼講演

テクニカル講演

 

参加申し込みは不要です。会場にて受講者名簿にご署名ください。

問い合わせ先:光電子分光分析研究室 内線 6882 suzuki-k at eng.hokudai.ac.jp

開催概要:

http://www.eng.hokudai.ac.jp/news/publication/conference/contents/cf2017_006.pdf

(工学研究院のホームページです)

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全学停電に伴う施設設備の使用停止について

いつもご利用ありがとうございます。

9月3日に予定されている全学停電に伴う保守作業により、9月1日9時から9月4日12時までの間、施設設備の全使用を停止させて頂きます。

同時間中、装置予約サイトも利用出来ません。

ユーザーの皆様にはご不便をおかけいたしますが、ご了承のほどよろしくお願い致します。

 

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7月21日にMASAOUの表面観察セミナーが行われました。

表面観察セミナー

7月21日(金)にMASAOU(マテリアル分析・構造解析共用ユニット)、当施設共催による表面観察セミナーが執り行われました。

SEMについて、初心者を対象とした内容の座学と実際に装置を利用しての実技を行いました。

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表面分析セミナーはあと3回(8/1、9/20、10/19)行われる予定です。

材料の表面構造分析にご興味のある方、特に走査電子顕微鏡、原子間力顕微鏡、共焦点レーザー走査型顕微鏡についてご興味のある方はどうぞお申し込みください。

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AES定期メンテナンス日程のお知らせ

いつもご利用頂きありがとうございます。

7/24(月)~7/28(金)まで、オージェ電子分光装置(AES)の定期メンテナンスがあります。

当期間、本装置はご利用頂けません。ご了承下さい。

他装置についてはご利用頂けます。

なお、メンテナンス期間はお知らせなしに延長になる場合がございます。

その場合、メンテナンス期間直後の利用について、キャンセルさせて頂く事になります。こちらについてもご理解下さいますようお願い致します。

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2017年度 春季 施設利用説明会(合同)の資料&予約時のナノテク課題番号について

いつもご利用ありがとうございます。

4月27日(木)に工学研究院 フロンティア応用科学研究棟 2F 鈴木章ホールにて、工学研究院共同利用施設5施設による合同施設説明会が開催されました。

光電子分光分析研究室も参加し、施設の利用案内説明を行いました。

当日の説明資料がダウンロード出来ます(光電子分光分析研究室のみ)。

当日参加出来なかった方は下記よりご参照ください。

H29 施設説明会光電子分光分析研究室

次回秋季に施設説明会を開催予定です。

工学研究院の共同利用施設についてご興味がありましたら奮ってご参加下さい。日程などが確定次第こちらでお知らせします。

当施設の装置予約時に入力されるナノテク課題番号ですが、表記が今年度より変更となっております。

HNPA16_000 ⇒ A-17-HK-0000

光電子分光分析研究室の装置予約サイトでは課題番号の末尾4桁の数字「0000」を入力してください。3桁だけの入力では予約が弾かれてしまいます。

お間違えの無いようによろしくお願い致します。

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