SEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました

いつもご利用ありがとうございます。

5月9、10、17日にマテリアル分析・構造解析共用ユニット(MASAOU)主催によるSEM/CP/AFM/LSCM表面観察セミナーが開催されました。

当施設の各種装置について、MASAOU特任助教の杉野義都先生にご講演頂きました。

本セミナーは9月まで毎月開催予定です。

表面分析装置についてご興味のある方は奮ってご参加ください。初心者向けのセミナーです。詳しくは下記ポスターをご覧ください。

表面観察セミナーポスター

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平成30年度 全学共同利用施設 説明会資料について

いつもご利用ありがとうございます。

本日、平成30年度全学共同利用施設 合同施設説明会を鈴木章ホールにて行いました。

当日説明会に使用した当施設についてのスライド及び配布資料についてご確認されたい方はこちらからご覧ください。

 

H30 施設説明会光電子分光分析研究室_ver3

施設紹介印刷資料_光電子分光分析研究室

分析相談はいつでも受け付けております。

施設スタッフまでご連絡お待ちしております。

 

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施設説明会&表面分析ユーザーズミーティング開催のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

4月23日(月)に2018年度工学研究院共同利用施設説明会を開催致します。

共同利用の施設の装置をご紹介致します。

光電子分光分析研究室の施設説明も行われます。

新規に施設のご利用される予定の方、当施設含め他の共同利用施設の利用案内をお聞きになりたい方はどうぞご参加下さい。

日時、会場等詳細につきましては下記PDFをご参照ください。

2018年度施設説明会ポスター_最終版

 

また、4月25日(水)には第6回 微小部・表面分析研究ユーザーズミーティングを開催致します。

表面分析に関わるユーザーの講演やメーカーのテクニカル講演が行われます。

今年はオージェ電子分光装置に関するテクニカル講演が行われますので、特にオージェ電子分光法にご興味の方は奮ってご参加下さい。

参加申し込み不要・参加料無料となっております。

こちらも日時、会場等詳細につきましては下記PDFをご参照ください。

第6回ユーザーズミーティングポスター_最終版

よろしくお願い致します。

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予約時のナノテク課題番号入力について

いつもご利用ありがとうございます。

平成30年度のナノテクノロジープラットフォーム支援申請の手続きがまもなく始まります。

支援を受けられる予定の方は課題番号が確定しない期間、装置予約サイトの課題番号欄は未入力で結構です。

次年度の課題番号が確定しましたら、装置予約・装置利用時にご入力をお願い致します。

4月~5月中の利用分については課題番号が確定しましたら、遡って利用区分を適用致します。

ご確認のほどよろしくお願い致します。

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AES&XPSメンテナンス日程のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

下記日程について、各装置のメンテナンスの為、装置が使用出来ません。

AES:2/20(火) 9:00 ~ 2/23(金) 17:00 ステージ交換作業、対物レンズ修理

XPS:2/26(月) 13:00 ~ 3/2(金) 17:00 X線源交換作業

ユーザーの皆様にはご不便をおかけいたしますが、ご了承のほどよろしくお願い致します。

 

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年末年始の研究室の予定について

年末年始の各装置のメンテナンス期間をお知らせします。

XPS・CP・AFM・LSCM : 12/28 17:00~1/4 11:00

SEM : 12/28 21:00~ 1/4 11:00

AES : 12/28 15:00~ 1/4 11:00

また、研究室自体も12/28 17:00~1/4 9:00 まで閉鎖致します。

ご不便お掛けいたしますがご理解下さい。

本年も多くのユーザーにご利用頂きました。ありがとうございました。良いお年を。

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SEM(JSM-6510LA)の反射電子検出器の修理完了のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

SEM(JSM-6510LA)で先月辺りから発生していた反射電子像(COMPO像)の不具合について、本日修理が完了致しました。

原因については不明ですが、検出器に粉体が付着している事が確認されています。

粉体サンプルを扱っているユーザーの皆様におかれましては、サンプル固定時にじっかり接着剤に固定し、ブロワーを十分にかけて粉体が飛ぶことのない事を確認した上で装置に導入するよう気を付けてください。

ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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反射電子像(組成像)の不具合について

いつもご利用ありがとうございます。

現在、SEM(JSM-6510LA)で組成像観察時にノイズが入りこむ現象が発生しております。

これはサンプルに関わりなく、反射電子検出器の一部の検出器に不具合がある為です。

年内中に反射電子検出器を交換する予定です。

組成像を観察したいユーザーの方は交換するまでの間の応急対策として、電子線の加速電圧、スポットサイズを大きく設定して観察を行って下さい(加速電圧20kV以上、SS65以上)。

また、スキャンスピードを遅くすることでも画像のノイズが低減します。

ご不便をおかけいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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オージェ電子分光装置(AES)修理のお知らせ

いつもご利用ありがとうございます。

11月6日10:00~11月8日12:00までの間、AESのステージ修理の為、装置は使用出来ません。

これは主にステージローテーションについて、視野中心が回転中心にならない不具合についての修理作業です。

修理当日までAESの利用は可能です。

ご不便お掛け致しますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

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原子間力顕微鏡(AFM)に関わる消耗品について

いつもご利用ありがとうございます。

原子間力顕微鏡(AFM SPA-400)の装置使用に必要となるカンチレバー及びカンチレバーを保管するゲルパックについて、施設利用細則にこれら消耗品費の項目を11月より追加しました。

・消耗品

消耗品 単価
マイクロカンチレバー(SI-DF40) 3,800円/本
マイクロカンチレバー(SN-AF01) 3,300円/本
カンチレバー用ゲルパック 静電気対策品 4,600円/個

これまでAFM装置使用にあたり、ユーザーの方には自前でカンチレバーをご用意して頂く必要がございました。

今後は施設のカンチレバーをご利用いただく事が可能です。

その際には上記消耗品を各単価にてご提供させて頂き、装置使用料と共にご請求させて頂きます。

AFM消耗品についてご利用されたい方は、施設職員までお尋ねください。

宜しくお願い致します。

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